ZFT: Zeta 박막 두께

Zeta-20은 30nm에서 100µm의 투명, 얇은 박막 두께 측정을 위한 통합 광대역 분광계를 제공합니다. 사용자가 소재 라이브러리에서 굴절율 값을 선택하여 단층 또는 다층 스택 박막 두께를 측정할 수 있습니다. 박막 두께는 샘플 산포를 파악하기 위해 샘플에 걸쳐 맵핑할 수 있습니다.

ZFT는 0.1%의 반사율을 가진 샘플 등의 반사율이 가장 낮은 표면에 적용됩니다. 다수의 박막 두께 툴의 경우 위상 변화 또는 기타 변수를 산출하는데 거울 반사광에 의존하기 때문에 이러한 표면 유형에서 신호를 확보하기 어렵습니다. 광대역 백색광과 수직입사광을 적용하면 툴을 반사율이 낮은 다양한 광학 투명 박막에 사용할 수 있습니다.

ZXI: Zeta 수직 주사 간섭측정법

Zeta-20은 간섭측정 대물렌즈와 압전 스테이지 결합 시에 위상천이 주사 간섭측정법(PSI)와 수직주사 간섭측정법(VSI)를 지원합니다. PSI는 옹스트롬에서 수백 나노미터의 스텝 높이를 신속하게 측정하도록 합니다. VSI는 수백 나노미터에서 수백 미크론의 스텝 높이를 신속하게 측정하도록 합니다. 두개의 측정법 모두 대물 렌즈 수차와 상관없이 나노미터 단위 해상도보다 더 나은 성능을 선보입니다.

ZIC: 간섭 대비

Zeta-20은 노말스키 차등간섭 대비 현미경을 활용하여 미세 표면 세부 이미지를 개선합니다. 노말스키 현미경은 편광과 프리즘을 이용하여 샘플 표면 상의 경사 변화를 향상시키기 위해 변위를 변경합니다. 이를 통해 오염의 단층 등의 매우 매끄러운 표면 상의 결함을 시각화할 수 있습니다. ZIC 스캐닝 모드는 타 기법으로 측정한 조도와 경사 변화의 상관관계를 구해 이러한 이미지를 서브 나노단위의 조도의 정량적 측정 값으로 변환합니다.

ZSI: Zeta 전단 간섭측정계

Zeta-20 전단 간섭 측정법(ZSI)는 위상 변화를 추가하여 ZIC 측정을 향상시킵니다. 상이한 위상의 다수의 이미지를 수집한 후 첨단 알고리즘으로 처리하여 옹스트롬 단위 해상도의 표면 형상의 정량적 측정 값을 생성합니다. 이러한 기법에는 간섭측정 타겟가 필요 없으며 Z-스테이지 스캐닝을 하지 않기 때문에 옹스트롬에서 80nm의 고해상도 측정 값을 생성합니다.

대물렌즈

1.25x – 150x 정상 타겟, 긴 작동 거리 타겟, 매우 긴 작동 거리 타겟와 굴절율 조정된 타겟, 관통 투과 타겟, 액침 타겟와 수직 주사 간섭측정법 타겟를 포함하여 다양한 대물 렌즈가 제공됩니다.

커플러

Zeta-20은 광학 배율을 변경하기 위해 4가지의 상이한 광학 커플러로 구성할 수 있습니다. 해당 시스템은 기본 배율을 유지하기 위한 1x 커플러로 구성하거나 배율을 확대하기 위해 0.35x, 0.5x, or 0.63x 커플러로 구성할 수 있습니다.

대물렌즈 터렛

Zeta-20은 자동 대물 파악을 위한 대물 렌즈 센서와 5 또는 6 포지션의 수동 터렛으로 구성할 수 있습니다. 또한 이 시스템은 완전히 자동화된 운영을 위한 6 포지션의 전동 터렛으로 구성할 수 있습니다.

샘플 조명

Zeta-20은 듀얼 고조도 백색 LED를 표준 조명으로 사용합니다. 패턴 사파이어 기판(PSS) 등의 다루기 어려운 투명 샘플에 대해 조명을 개선하기 위해 샘플 척을 통해 배경 조명을 제공합니다. 또한 Zeta-20은 측면 다크필드 조명을 지원합니다.

스테이지

시스템 성능을 개선하기 위해 다양한 스테이지로 Zeta-20을 구성할 수 있습니다. 압전 Z-축 스테이지를 추가하여 ZDot™ 또는 ZXI 측정 모드로 나노단위 스텝 높이의 측정을 위한 z 해상도를 개선할 수 있습니다. Z-스테이지를 스위블에 탑재하여 표면 상의 입사각을 변경하기 위해 샘플을 헤드에서 회전할 수 있습니다. 280mm Z 타워를 선택적으로 탑재하여 태블릿, 폰 및 대형 기기 부품 등의 대형 부품을 지원할 수 있습니다. XY 스테이지는 100 또는 300mm 수동 이동 역량 또는 150 또는 200mm의 동력 이동 역량으로 구성할 수 있습니다. 수동 회전 스테이지를 XY 스테이지에 추가할 수 있습니다. 수동 팁과 기울기 스테이지를 추가하여 간섭측정을 위해 스테이지 수평을 조정할 수 있습니다.

샘플 척

Zeta-20은 애플리케이션 요구사항을 지원할 수 있는 다양한 척을 보유하고 있습니다. Solar 샘플은 엣지를 측정하기 위해 샘플을 기울게 하는 156mm 샘플 척 또는 Solar 틸트 엣지 척을 필요로합니다. 투과된 조명을 지원하는 투명 기판을 위한 후광 척도 있습니다. 300mm 웨이퍼 척이 제공됩니다. 필요하신 척이 없다면 요구사항에 대해 KLA에 연락주세요.

제진 테이블

Zeta-20은 수동형 제진 피트가 시스템의 기반에 내장되어 있습니다. 추가 제진이 필요한 경우 능동형 및 수동형 벤치 탑 제진 테이블을 사용할 수 있습니다.

스텝 높이 및 박막 두께 기준

Zeta-20은 VLSI 기준이 제공하는 얇고 두꺼운 박막의 NIST-추적가능한 스텝 높이 기준을 사용합니다. 표준사항은 크롬 코팅된 식각 쿼츠 스텝을 선보입니다. 8nm에서 250µm의 스텝 높이가 제공됩니다.

인증된 다단 기준은 8, 25, 50와 100µm의 공칭 스텝 높이를 보유하고 있습니다. 표준사항은 XY 교정을 위한 다양한 피치 패턴을 보유합니다. 기준 실리콘 표면과 공칭 270nm 산화 실리콘 박막 두께를 포함한 ZFT를 위한 인증된 박막 두께 표준이 제공됩니다. 기준 조도 및 거울 샘플도 제공됩니다.

자동 시퀀싱 소프트웨어

자동 시퀀싱 소프트웨어는 자동 XY 스테이지를 활용하여 사용자가 샘플 상의 측정 위치를 프로그램 하도록 합니다. 이 시스템은 각 부위를 자동 측정하며 사용자 정의 폴더에 결과를 저장합니다. 결과를 요약하기 위해 샘플 통계를 포함한 결과물 보고서가 생성됩니다.

첨단 시퀀싱 소프트웨어는 샘플을 자동 정렬하는 패턴 인식을 포함합니다. 이를 통해 완전한 자동 측정이 가능해져서 작업자 오류로 인한 영향을 줄일 수 있습니다. 내장 기준을 스테이지에서 사용할 시에 자동 교정을 사용할 수 있습니다.

스티칭 소프트웨어

자동 이미지 스티칭 소프트웨어는 전동 XY 스테이지를 활용하여 단일 시야보다 큰 스티칭된 데이터 세트를 생성하기 위해 인접 스캔을 조합합니다. 시스템은 자동으로 모든 부분을 측정하고 이미지를 정렬하여 한 개의 데이터 세트로 조합합니다. 결과는 기타 결과 파일과 마찬가지로 분석 가능합니다.

Apex 분석 소프트웨어

Apex 분석 소프트웨어는 확장된 평준화, 필터링, 스텝 높이, 조도 및 표면 형상 분석 기법으로 P-7 표준 데이터 분석 역량을 향상시킵니다. Apex는 ISO 조도 산출 방식과 더불어 ASME 등의 현지 기준을 지원합니다. 또한 Apex는 텍스트, 주석과 합/불 기준을 추가할 수 있는 역량을 통해 보고서 작성 플랫폼으로도 사용할 수 있습니다. Apex는 8개 언어를 지원합니다.

오프라인 분석 소프트웨어

Zeta-20 오프라인 소프트웨어는 툴 상에 탑재된 레시피 생성 및 데이터 분석 역량을 동일하게 보유하고 있습니다. 이를 통해 사용자는 소중한 툴 시간을 희생하지 않고 데이터를 분석하며 레시피를 생성할 수 있습니다.