제품 설명
NanoFlip은 이미징을 위한 샘플을 위치하는 테스팅 및 플립 메커니즘을 위한 샘플을 위치하는 고정밀 XYZ 모션을 보유합니다. InView 소프트웨어는 다양한 범위의 테스트 프로토컬을 다루는 테스트 방법을 탑재하고 있으며 이를 통해 사용자들이 자체적인 신규 테스트 방법을 생성할 수 있습니다. InForce50 액츄에이터는 진공 및 대기 조건에서 모두 동일하게 좋은 성능을 선보입니다. InView 소프트웨어를 통해 SEM 또는 기타 현미경 이미지를 기록할 수 있으며 기계적 테스트 데이터와 동기화 가능합니다. 혁신적인 FIB-투-테스트 기술로 샘플을 90° 기울려 샘풀을 제거하지 않고 FIB에서 인덴테이션 테스트로 원활하게 이동할 수 있습니다.
기능
- 교체가능한 팁을 갖춘 전자기 힘 구동 및 정전용량 변위 측정을 위한 InForce 50 액츄에이터
- 100kHz 데이터 취득율 및 20µs 시간 상수를 탑재한 InQuest 고속 컨트롤러 전자장치
- 샘플 타게팅을 위한 XYZ 모션 시스템
- 테스트 데이터를 통한 동기화 SEM 이미지를 위한 SEM 영상 검출
- 신속하고 정확한 팁 교정을 위한 고유의 소프트웨어 통합 팁 교정 시스템
- 사용자 설계 실험을 위한 방법 개발자 및 Windows® 10 호환성을 갖춘 InView 제어 및 데이터 리뷰 소프트웨어
애플리케이션
- 경도 및 탄성율 측정 (Oliver-Pharr)
- 연속 강성 측정
- 고속 재료 물성 맵
- ISO 14577 경도 테스트
- 나노 동적 기계적 분석 (DMA)
- 정량적 스크래치 및 마모 테스트
산업
- 대학교, 연구 실험실 및 기관
- 필러 및 미립구 제조
- MEMS: 미세 전자 기구 시스템
- 물질 제조 (구조 압축/인장/파괴 테스트)
- 배터리 및 부품 제조
